Standardin ISO 14644 tässä osassa määritellään menetelmä, jonka avulla arvioidaan laitteiden (esim. koneiden, mittareiden, prosessilaitteiden, komponenttien ja työkalujen) soveltuvuutta käytettäväksi puhdastiloissa ja puhtailla alueilla, joiden puhtausluokitus määritellään standardissa ISO 14644‑1. Tässä standardissa käsitellään hiukkaskokoja välillä 0,1 µm ... ≥ 5 µm (koot annetaan standardissa ISO 14644‑1). HUOM. Jos viranomaiset antavat lisäohjeita tai -rajoituksia, voidaan arviointimenetelmää joutua muuntelemaan. Standardin ISO 14644 tämä osa ei kata seuraavia kokonaisuuksia: — soveltuvuuden arviointia biokontaminaatiosovelluksissa — puhdistusaineiden ja -tekniikoiden soveltuvuuden testausta — laitteiden ja materiaalien puhdistettavuutta — laitteiden suunnittelua ja materiaalien valintaa koskevia vaatimuksia — materiaalien fysikaalisia ominaisuuksia (esim. sähköstaattisia tai lämpöominaisuuksia) — laitteen suoritustason optimointia tietylle prosessille soveltuvaksi — testaukseen liittyvien tilastollisten menetelmien valintaa ja käyttöä — paikallisten turvallisuusmääräysten menettelyjä ja vaatimuksia.
Tämän julkaisun valmistelusta Suomessa vastaa Yhteinen Toimialaliitto, www.ytl.fi.
Sisällysluettelo
Eurooppalainen esipuhe (CEN)
Esipuhe (ISO)
Johdanto
1 Soveltamisala
2 Velvoittavat viittaukset
3 Termit ja määritelmät
4 Arvioinnin yleiset piirteet
5 Silmämääräinen tarkastus
6 Soveltuvuuden arviointi ilman hiukkaspitoisuuden mittauksilla
6.1 Yleistä
6.2 Arviointimenetelmä
7 Dokumentointi
7.1 Yleistä
7.2 Dokumentointia koskevat yleiset vaatimukset
7.3 Silmämääräisen tarkastuksen asiakirjat
7.4 Testausympäristön arviointia koskevat asiakirjat
7.5 Luokitusmittauksia koskevat asiakirjat
8 Lausunto puhdastilaan soveltuvuudesta
Liite A Esimerkki mittauksista saadun datan prosessoinnista (opastava)