Verkkokauppa
SFS-EN ISO 14644-1:2015/Korjaus:2019
Puhdastilat ja puhtaat alueet. Osa 1: Hiukkaspitoisuuden perusteella tehtävä puhtausluokitus
Soveltamisala
Standardin ISO 14644 tässä osassa määritellään ilman hiukkaspitoisuuden perusteella tehtävä puhdastilojen ja puhtaiden vyöhykkeiden sekä standardin ISO 14644‑7 mukaisten eristettyjen kaappien ja tilojen puhtausluokitus.
Luokituksessa otetaan huomioon hiukkaspopulaatioista ainoastaan kumulatiivisen jakauman 0,1 µm…5 µm väliset pitoisuudet.
Ilmassa olevan hiukkaspitoisuuden määritys nimetyissä näytteenottokohdissa perustuu hiukkaslaskennassa käytettyyn valonsirontamenetelmään (LSAPC), kun hiukkaskoko on yhtä suuri tai suurempi kuin määritellyt arvot.
Standardin ISO 14644 tämä osa ei sovellu sellaisten hiukkaskokopopulaatioiden mukaan suoritettavaan luokitukseen, jotka ovat määritellyn 0,1 µm…5 µm alueen ulkopuolella. Ultrapienten hiukkasten pitoisuuksia (hiukkaskoko alle 0,1 µm) käsitellään omassa standardissaan, jossa luokitus tehdään nanohiukkasten perusteella. Makrohiukkaspopulaatioiden (hiukkaskoko yli 5 µm) laskennassa voidaan käyttää M-termiä (ks. liite C).
Standardin ISO 14644 tätä osaa ei voida käyttää karakterisoimaan ilman hiukkasten fysikaalista, kemiallista, radiologista tai elävää luonnetta.
Tämän julkaisun valmistelusta Suomessa vastaa Yhteinen Toimialaliitto, www.ytl.fi.
Luokituksessa otetaan huomioon hiukkaspopulaatioista ainoastaan kumulatiivisen jakauman 0,1 µm…5 µm väliset pitoisuudet.
Ilmassa olevan hiukkaspitoisuuden määritys nimetyissä näytteenottokohdissa perustuu hiukkaslaskennassa käytettyyn valonsirontamenetelmään (LSAPC), kun hiukkaskoko on yhtä suuri tai suurempi kuin määritellyt arvot.
Standardin ISO 14644 tämä osa ei sovellu sellaisten hiukkaskokopopulaatioiden mukaan suoritettavaan luokitukseen, jotka ovat määritellyn 0,1 µm…5 µm alueen ulkopuolella. Ultrapienten hiukkasten pitoisuuksia (hiukkaskoko alle 0,1 µm) käsitellään omassa standardissaan, jossa luokitus tehdään nanohiukkasten perusteella. Makrohiukkaspopulaatioiden (hiukkaskoko yli 5 µm) laskennassa voidaan käyttää M-termiä (ks. liite C).
Standardin ISO 14644 tätä osaa ei voida käyttää karakterisoimaan ilman hiukkasten fysikaalista, kemiallista, radiologista tai elävää luonnetta.
Tämän julkaisun valmistelusta Suomessa vastaa Yhteinen Toimialaliitto, www.ytl.fi.
Tuoteryhmä(t)
Sidokset
Velvoittavat viittaukset
ISO 14644-2:2015 Cleanrooms and associated controlled environments -- Part 2: Monitoring to provide evidence of cleanroom performance related to air cleanliness by particle concentration
ISO 14644-7:2004 Cleanrooms and associated controlled environments -- Part 7: Separative devices (clean air hoods, gloveboxes, isolators and mini-environments)
ISO 14644-7:2004 Cleanrooms and associated controlled environments -- Part 7: Separative devices (clean air hoods, gloveboxes, isolators and mini-environments)
Tekninen komitea
Vahvistuspäivä
06.09.2019
Julkaisupäivä
10.09.2019
Painos
1
Sivumäärä
1
Julkaisun kieli
suomi
Lisätiedot
Tämä ilmainen julkaisu on avattavissa esikatselu -painikkeesta. Klikkaa painiketta ja avaa julkaisu ohjelmalla Adobe Acrobat Reader.
Julkaisun avaamiseksi ei tarvitse kirjautua palveluun tai viedä julkaisua ostoskoriin.
Julkaisun avaamiseksi ei tarvitse kirjautua palveluun tai viedä julkaisua ostoskoriin.