Lyhenteet

- A / A +

Takaisin

SFS-EN ISO 3497:en

Metallic coatings. Measurement of coating thickness. X-ray spectrometric methods (ISO 3497:2000)

Tuote ladattavissa heti Toimitusaika on noin 1 - 2 työpäivää Toimitusaika on 3 - 5 työpäivää.
Soveltamisala
Suomenkielistä soveltamisalaa ei ole saatavissa.

1.1 This International Standard specifies methods for measuring the thickness of metallic coatings by the use of X-ray spectrometric methods.
1.2 The measuring methods to which this International Standard applies are fundamentally those that determine the mass per unit area. Using a knowledge of the density of the coating material, the results of measurements can also be expressed as linear thickness of the coating.
1.3 The measuring methods permit simultaneous measurement of coating systems with up to three layers, or simultaneous measurement of thickness and compositions of layers with up to three components.
1.4 The practical measurement ranges of given coating materials are largely determined by the energy of the characteristic X-ray fluorescence to be analysed and by the acceptable measurement uncertainty and can differ depending upon the instrument system and operating procedure used.

Tämän julkaisun valmistelusta Suomessa vastaa Metalliteollisuuden Standardisointiyhdistys ry, puh. 09 19 231 (vaihde).
Sisällysluettelo
Sidokset
Velvoittavat viittaukset
Tässä julkaisussa ei ole velvoittavia viittauksia
Vahvistuspäivä
29.06.2001
Julkaisupäivä
17.07.2001
Painos
1
Sivumäärä
25
Julkaisun kieli
englanti

Takaisin