Tässä asiakirjassa määritellään prosessin mittauskehys, joka tukee standardissa ISO/IEC 33003 esitettyjen vaatimusten mukaista prosessin kyvykkyyden arviointia. Prosessin mittauskehys tarjoaa pohjan, jonka päälle voidaan rakentaa standardin ISO/IEC 33004 mukainen prosessien arviointimalli, jota voidaan käyttää standardissa ISO/IEC 33002 esitettyjen vaatimusten mukaisen prosessin kyvykkyyden arvioinnin suorittamisessa. Tämän asiakirjan sekä siihen liittyvien standardien kontekstissa prosessin kyvykkyys on prosessin laatupiirre, joka liittyy prosessin kykyyn täyttää senhetkiset tai ennakoidut liiketoimintatavoitteet. Tässä asiakirjassa määritelty prosessin mittauskehys muodostaa rakenteen, joka a) mahdollistaa itsearvioinnin b) tarjoaa perustan sen käytölle prosesseja koskevien parannusten ja prosessin laadun määrittämisessä c) on sovellettavissa kaikilla sovellusalueilla ja kaikenkokoisissa organisaatioissa d) tuottaa joukon prosessin (kyvykkyyden) ominaisuusluokituksia (prosessin profiili) e) kertoo prosessin kyvykkyystason. Tässä asiakirjassa on myös opastavia liitteitä, jotka sisältävät prosessin kyvykkyyden arviointi-indikaattorijoukon, jota voidaan käyttää tätä prosessin mittauskehystä hyödyntävän prosessien arviointimallin rakentamisessa, sekä prosessin kyvykkyystasojen merkitystä ja prosessiominaisuuksien saavuttamista koskevaa ohjeistusta.
Tämän julkaisun valmistelusta Suomessa vastaa SFS Suomen Standardit, puh. 09 149 9331.
Sisällysluettelo
Esipuhe (ISO)
Johdanto
1 Soveltamisala
2 Velvoittavat viittaukset
3 Termit ja määritelmät
4 Yleiskatsaus
5 Prosessin kyvykkyyden mittauskehys
5.1 Yleistä
5.2 Prosessin kyvykkyystasot ja prosessiominaisuudet