Lyhenteet

- A / A +

Takaisin

SFS-EN ISO 10939:2017:en

Ophthalmic instruments. Slit-lamp microscopes (ISO 10939:2017)

Tuote ladattavissa heti Toimitusaika on noin 1 - 2 työpäivää Toimitusaika on 3 - 5 työpäivää.
Soveltamisala
Suomenkielistä soveltamisalaa ei ole saatavissa.

ISO 10939:2017, together with ISO 15004-1 and ISO 15004-2, specifies requirements and test methods for slit-lamp microscopes to provide slit illumination and observation under magnification of the eye and its adnexa.
ISO 10939:2017 is not applicable to microscope accessories, e.g. photographic equipment and lasers.
ISO 10939:2017 takes precedence over ISO 15004-1 and ISO 15004-2, if differences exist.

Tämän julkaisun valmistelusta Suomessa vastaa Yhteinen Toimialaliitto, www.ytl.fi.
Sisällysluettelo
Sidokset
Velvoittavat viittaukset
IEC 60601-1 AMD 1:2012
IEC 60601-1:2005
ISO 15004-1:2006 Ophthalmic instruments -- Fundamental requirements and test methods -- Part 1: General requirements applicable to all ophthalmic instruments
Vahvistuspäivä
16.06.2017
Julkaisupäivä
20.06.2017
Painos
3
Sivumäärä
12
Julkaisun kieli
englanti

Takaisin