Verkkokauppa
SFS-EN ISO 16526-1:2020:en
Non-destructive testing. Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage. Part 1: Voltage divider method (ISO 16526-1:2011)
Soveltamisala
Suomenkielistä soveltamisalaa ei ole saatavissa.
ISO 16526-1:2011 specifies a method for the direct and absolute measurement of the average high voltage of constant potential (DC) X-ray systems on the secondary side of the high voltage generator. The intention is to check the correspondence with the indicated high voltage value on the control unit of the X-ray system.
This method is applied to assure a reproducible operation of X-ray systems because the voltage influences particularly the penetration of materials and the contrast of X-ray images and also the requirements concerning the radiation protection.
Tämän julkaisun valmistelusta Suomessa vastaa Metalliteollisuuden Standardisointiyhdistys ry, puh. 09 19 231 (vaihde).
ISO 16526-1:2011 specifies a method for the direct and absolute measurement of the average high voltage of constant potential (DC) X-ray systems on the secondary side of the high voltage generator. The intention is to check the correspondence with the indicated high voltage value on the control unit of the X-ray system.
This method is applied to assure a reproducible operation of X-ray systems because the voltage influences particularly the penetration of materials and the contrast of X-ray images and also the requirements concerning the radiation protection.
Tämän julkaisun valmistelusta Suomessa vastaa Metalliteollisuuden Standardisointiyhdistys ry, puh. 09 19 231 (vaihde).
Sisällysluettelo
Tuoteryhmä(t)
Sidokset
Velvoittavat viittaukset
Tässä julkaisussa ei ole velvoittavia viittauksia
Tekninen komitea
Vahvistuspäivä
13.03.2020
Julkaisupäivä
17.03.2020
Painos
1
Sivumäärä
9
Julkaisun kieli
englanti